Descripción
MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE ET MICROANALYSES
Resumen del libro
Esta obra constituye una referencia completa y actualizada sobre microscopía electrónica de barrido (MEB) y microanálisis asociados, abarcando desde los fundamentos teóricos hasta las aplicaciones prácticas más avanzadas. El lector encontrará una guía exhaustiva que integra las bases físicas de la interacción electrón-materia, las características técnicas de los equipos (cañón, óptica electrónica, detectores, sistemas de vacío) y las técnicas de microanálisis EDS, WDS y EBSD. El libro, fruto de la colaboración de especialistas del Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de micro-Analyses, ofrece un enfoque didáctico y riguroso, ideal tanto para experimentadores como para investigadores en ciencia de materiales.
¿De qué trata?
El libro desarrolla de manera sistemática los principios y aplicaciones de la microscopía electrónica de barrido y las microtécnicas asociadas. Comienza con las bases teóricas de la interacción entre electrones y materia, así como la generación de radiación X. A continuación, detalla los componentes esenciales de los microscopios electrónicos, tanto de alto vacío como de vacío controlado, incluyendo cañones de electrones, sistemas de lentes, detectores y mantenimiento. Se profundiza en las técnicas de microanálisis por dispersión de energía (EDS), por dispersión de longitud de onda (WDS) y por difracción de electrones retrodispersados (EBSD). Además, se abordan técnicas complementarias como el análisis TKD, la imagen 3D, el haz de iones focalizado (FIB), las simulaciones Monte Carlo, los ensayos in situ, la microscopía de contraste de canalización de electrones (ECCI) y el microanálisis de capas finas. También se incluyen nociones sobre muestras biológicas, espectroscopía Raman y catodoluminiscencia. Esta nueva edición, revisada y ampliada, actualiza la versión de 2008 e incorpora nuevos capítulos basados en los cursos de la escuela de verano de Saint-Martin d'Hères de 2006, organizada por el GN-MEBA.
Temas principales
- Fundamentos de la interacción electrón-materia y generación de radiación X.
- Componentes técnicos de los microscopios electrónicos de barrido: cañón, óptica, detectores y sistemas de vacío.
- Microanálisis EDS, WDS y EBSD: principios, instrumentación y aplicaciones.
- Técnicas avanzadas: FIB, TKD, imagen 3D, simulaciones Monte Carlo, ensayos in situ y ECCI.
- Microanálisis de capas finas y tratamiento de muestras biológicas.
- Espectroscopías complementarias: Raman y catodoluminiscencia.
¿Para quién está recomendado?
Está especialmente dirigido a experimentadores y usuarios de microscopía electrónica de barrido que deseen profundizar en los fundamentos y técnicas asociadas. También es de gran interés para especialistas en ciencia de materiales (materiales duros, blandos, conductores, no conductores, estratificados, etc.) que busquen explotar al máximo el potencial de estas técnicas de imagen y análisis. Investigadores, ingenieros y estudiantes de posgrado en campos como la física, la química, la biología y la ingeniería de materiales encontrarán en esta obra un recurso valioso y completo.
Qué aporta este libro
- Una visión integral y actualizada de la microscopía electrónica de barrido y microanálisis, desde la teoría hasta la práctica.
- Contenido riguroso y detallado, escrito por expertos y basado en cursos especializados.
- Cobertura de técnicas avanzadas y complementarias que amplían las capacidades analíticas.
- Guía práctica para la optimización del uso de equipos y la interpretación de resultados.
- Recurso de referencia para la formación y consulta en entornos académicos e industriales.
Ficha técnica
- Autor: Brisset Francoi
- Editorial: EDP Sciences
- Idioma: Francés
- Colección: FRANCES
- Peso: 1937.0 g
Valoración editorial
Esta obra se presenta como un manual de referencia imprescindible para cualquier profesional o investigador que trabaje con microscopía electrónica de barrido y microanálisis. Su enfoque exhaustivo, que combina fundamentos teóricos con aplicaciones prácticas y técnicas avanzadas, la convierte en una herramienta formativa y de consulta de alto valor. La actualización de contenidos y la inclusión de nuevos capítulos garantizan que el lector acceda a la información más relevante y actual en este campo. Especialmente recomendada para quienes buscan un dominio profundo de las técnicas de imagen y análisis a escala micrométrica y nanométrica.